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天眼查App顯示，上海安路信息科技股份有限公司在2024年9月23日申請了一項名為“芯片的同步開關(guān)噪聲測試方法、裝置及存儲介質(zhì)”的發(fā)明專利，該專利已于2024年12月31日公布。這項技術(shù)由翟文婷和沈費欽共同發(fā)明，旨在解決芯片測試中的效率問題。

該方法的核心在于確定待測芯片的被測I/O和干擾源I/O，并在最大驅(qū)動電流下進行同步開關(guān)噪聲測試。通過這種方法，可以快速、準確地確定其他驅(qū)動電流下的芯片同步噪聲測試結(jié)果，無需逐一在每一驅(qū)動電流條件下進行測試。這不僅節(jié)省了大量的測試時間，還提高了測試的準確性。

上海安路信息科技股份有限公司的這項創(chuàng)新技術(shù)，預(yù)計將對芯片測試行業(yè)產(chǎn)生重要影響，特別是在提高測試效率和降低成本方面。該公司的這一技術(shù)突破，展示了其在芯片測試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位和創(chuàng)新能力。

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