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天眼查App顯示，上海感圖網(wǎng)絡科技有限公司近日公開了一項名為“晶圓背面缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質”的發(fā)明專利，專利號為CN202411389128.1。該專利應用在晶圓缺陷檢測領域，通過確定顯微鏡頭在待檢測點的目標焦距序列，獲取目標圖像序列，并進行圖像融合處理，最終獲得待檢測晶圓背面的缺陷檢測結果。

該技術的核心在于通過圖像融合處理，節(jié)省晶圓圖像融合的時間，從而提高晶圓背面缺陷檢測的效率。這一創(chuàng)新方法有望在半導體制造領域帶來顯著的技術進步，提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質量。

上海感圖網(wǎng)絡科技有限公司位于上海市閔行區(qū)，專注于圖像處理和人工智能技術的研發(fā)。此次公開的專利展示了公司在晶圓檢測領域的技術實力，未來有望在半導體行業(yè)中得到廣泛應用。

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